Bento, DavidCidre, DianaLima, JoséDias, Ricardo P.Lima, Rui A.2014-10-022014-10-022013Bento, David; Cidre, Diana; Lima, José; Dias, Ricardo P.; Lima, R. (2013). Método automático para a medição da espessura camada de plasma em microcanais com bifurcações. In Congress on Numerical Methods in Engineering 2013. Bilbao, Spainhttp://hdl.handle.net/10198/10687Ao longo dos anos, a espessura da camada de plasma tem sido determinada com o auxílio de métodos manuais. Apesar destes métodos serem bastante fiáveis, estes são morosos e podem introduzir erros do utilizador nos dados. No presente trabalho, foi desenvolvido um método automático de processamento de imagem para a determinação da espessura camada de plasma de uma forma automática.porCamada de plasmaBifurcaçãoMétodo automáticoconference paper