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Título: Estudo numérico e experimental do campo de deformações na interface osso-implante
Autor: Ribeiro, J.E.
Lopes, H.
Vaz, M.A.P.
Xavier, José
Palavras-chave: Técnicas ópticas
Correlação digital de imagem
Métodos muméricos
Biomateriais
Data: 2009
Editora: SEMNI, APMTAC
Citação: Ribeiro, J.E.; Lopes, H.; Vaz, M.A.P.; Xavier, José (2009) - Estudo numérico e experimental do campo de deformações na interface osso-implante. In Congreso de Métodos Numéricos en Ingeniería. Barcelona, Spain. ISBN 978-84-96736-66-5
Resumo: As ferramentas numéricas são actualmente utilizadas na simulação do comportamento mecânico de biomateriais. Para uma correcta análise é necessário o conhecimento das propriedades mecânicas destes materiais. As técnicas ópticas de medição de campo sem contacto estão bem adaptadas para a medição do comportamento global da estrutura. Os dados experimentais são utilizados na determinação das propriedades mecânicas e na validação das simulações numéricas. Neste trabalho pretende-se analisar o comportamento do tecido ósseo cortical de bovino na proximidade da interface com um implante metálico e sob a acção de diferentes carregamentos. O osso cortical é um material com uma estrutura altamente porosa, o que impede a medição rigorosa das deformações utilizando os métodos experimentais convencionais. Na análise desenvolvida utilizou-se a técnica da Correlação Digital de Imagem por permitir a medição do campo de deformações com elevada resolução na região de interface osso implante. Um modelo numérico da interface osso implante foi realizado com um código comercial de Elementos Finitos. A partir das propriedades mecânicas medidas, para as mesmas condições de carregamento e de fronteira determinaram-se os campos de deslocamento e deformação. A comparação destes resultados com os obtidos por via experimental permitiu validar as propriedades mecânicas determinadas a partir das medições experimentais.
URI: http://hdl.handle.net/10198/1779
ISBN: 978-84-96736-66-5
Aparece nas colecções:DTM - Artigos em Proceedings Não Indexados ao ISI/Scopus

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