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Título: Método automático para a medição da espessura camada de plasma em microcanais com bifurcações
Outros títulos: Proposal of an automatic method to measure the cell free layer in microchannels with bifurcations
Autor: Bento, David
Cidre, Diana
Lima, José
Dias, Ricardo P.
Lima, R.
Palavras-chave: Camada de plasma
Bifurcação
Método automático
Data: 2013
Citação: Bento, David; Cidre, Diana; Lima, José; Dias, Ricardo P.; Lima, R. (2013) - Método automático para a medição da espessura camada de plasma em microcanais com bifurcações. In Congress on Numerical Methods in Engineering 2013. Bilbao, Spain
Resumo: Ao longo dos anos, a espessura da camada de plasma tem sido determinada com o auxílio de métodos manuais. Apesar destes métodos serem bastante fiáveis, estes são morosos e podem introduzir erros do utilizador nos dados. No presente trabalho, foi desenvolvido um método automático de processamento de imagem para a determinação da espessura camada de plasma de uma forma automática.
Peer review: yes
URI: http://hdl.handle.net/10198/10687
Aparece nas colecções:DTQB - Artigos em Proceedings Não Indexados ao ISI/Scopus

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